已知一次函數(shù)的圖像和二次函數(shù)的圖像都經(jīng)過(guò)、兩點(diǎn),且點(diǎn) 軸上,點(diǎn)的縱坐標(biāo)為5.

(1)求這個(gè)二次函數(shù)的解析式;
(2)將此二次函數(shù)圖像的頂點(diǎn)記作點(diǎn),求△的面積.

(1) (2) 

解析試題分析:(1)已知一次函數(shù)的圖像和二次函數(shù)的圖像都經(jīng)過(guò)、兩點(diǎn),且點(diǎn) 軸上,點(diǎn)的縱坐標(biāo)為5,那么A點(diǎn)在y軸上,它的橫坐標(biāo)為0,縱坐標(biāo)為y=0+1=1,所以點(diǎn)A的坐標(biāo)為(0,1);點(diǎn)的縱坐標(biāo)為5,那么其橫坐標(biāo)為5=x+1,解得x=4,所以點(diǎn)B的坐標(biāo)為(4,5),因?yàn)槎魏瘮?shù)的圖像經(jīng)過(guò)兩點(diǎn),則,解得,所以這個(gè)二次函數(shù)的解析式為 
(2)將此二次函數(shù)圖像的頂點(diǎn)記作點(diǎn),由(1)知二次函數(shù)的解析式為,化為頂點(diǎn)式為,所以P的坐標(biāo)為(),△的面積==
考點(diǎn):二次函數(shù),一次函數(shù)
點(diǎn)評(píng):本題考查二次函數(shù),一次函數(shù),解答本題需要掌握二次函數(shù)的性質(zhì),會(huì)求二次函數(shù)的頂點(diǎn)坐標(biāo),點(diǎn)在函數(shù)上則點(diǎn)的坐標(biāo)要滿足函數(shù)關(guān)系式,從而求出函數(shù)解析式

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已知一次函數(shù)的圖像和二次函數(shù)的圖像都經(jīng)過(guò)A、B兩點(diǎn),且點(diǎn)Ay軸上,B點(diǎn)的縱坐標(biāo)為5.

(1)求這個(gè)二次函數(shù)的解析式;
(2)將此二次函數(shù)圖像的頂點(diǎn)記作點(diǎn)P,求△ABP的面積;
(3)已知點(diǎn)C、D在射線AB上,且D點(diǎn)的橫坐標(biāo)比C點(diǎn)的橫坐標(biāo)大2,點(diǎn)E、F在這個(gè)二次函數(shù)圖像上,且CEDFy軸平行,當(dāng)時(shí),求C點(diǎn)坐標(biāo).

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已知一次函數(shù)的圖像和二次函數(shù)的圖像都經(jīng)過(guò)A、B兩點(diǎn),且點(diǎn)Ay軸上,B點(diǎn)的縱坐標(biāo)為5.

(1)求這個(gè)二次函數(shù)的解析式;
(2)將此二次函數(shù)圖像的頂點(diǎn)記作點(diǎn)P,求△ABP的面積;
(3)已知點(diǎn)C、D在射線AB上,且D點(diǎn)的橫坐標(biāo)比C點(diǎn)的橫坐標(biāo)大2,點(diǎn)EF在這個(gè)二次函數(shù)圖像上,且CE、DFy軸平行,當(dāng)時(shí),求C點(diǎn)坐標(biāo).

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已知一次函數(shù)的圖像和二次函數(shù)的圖像都經(jīng)過(guò)兩點(diǎn),且點(diǎn) 軸上,點(diǎn)的縱坐標(biāo)為5.

(1)求這個(gè)二次函數(shù)的解析式;

(2)將此二次函數(shù)圖像的頂點(diǎn)記作點(diǎn),求△的面積.

 

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(1)求這個(gè)二次函數(shù)的解析式;

(2)將此二次函數(shù)圖像的頂點(diǎn)記作點(diǎn)P,求△ABP的面積;

(3)已知點(diǎn)CD在射線AB上,且D點(diǎn)的橫坐標(biāo)比C點(diǎn)的橫坐標(biāo)大2,點(diǎn)E、F在這個(gè)二次函數(shù)圖像上,且CEDFy軸平行,當(dāng)時(shí),求C點(diǎn)坐標(biāo).

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