Question

20．物理實(shí)驗(yàn)中一般都需要多次實(shí)驗(yàn)，下列實(shí)驗(yàn)中多次測量的目的與其他三個不同的是（　　）

• A． 探究平面鏡成像特點(diǎn)
• B． 用刻度尺測量長度
• C． 探究光的反射規(guī)律
• D． 探究凸透鏡成像的規(guī)律

Answer 1

分析 解決此題要知道初中物理實(shí)驗(yàn)進(jìn)行多次測量目的是什么，一是為了求平均值，提高精度，減小誤差；二是為了尋找普遍規(guī)律．根據(jù)題意探究多次測量提高精度的，就需要將多次測量結(jié)果取平均值．

解答 解：探究平面鏡成像特點(diǎn)的實(shí)驗(yàn)、探究光的反射規(guī)律實(shí)驗(yàn)和體積凸透鏡成像的規(guī)律都需要多次實(shí)驗(yàn)，其目的是為找到普遍規(guī)律；用刻度尺測量長度采用多次測量用求平均值的辦法來減小誤差，提高精度，故B符合題意．
故選：B．

點(diǎn)評 本題考查物理學(xué)方法，解答此題的關(guān)鍵是知道物理實(shí)驗(yàn)中多次測量的目的．