Question

某同學(xué)進(jìn)行硫酸銅晶體結(jié)晶水含量的測(cè)定實(shí)驗(yàn)。完成下列填空：
【實(shí)驗(yàn)步驟】
（1）用_______（填儀器名稱，下同）準(zhǔn)確稱量瓷坩堝的質(zhì)量。
（2）在瓷坩堝中加入約2 g研細(xì)的硫酸銅晶體，并稱量。
（3）把盛有硫酸銅晶體的瓷坩堝放在泥三角上慢慢加熱，直到藍(lán)色完全變白，然后把坩堝移至____________中冷卻到室溫，并稱量。
（4）重復(fù)(3)的實(shí)驗(yàn)進(jìn)行恒重操作，直至兩次稱量結(jié)果相差不超過0.001 g。
【數(shù)據(jù)記錄與處理】

	第一次實(shí)驗(yàn)	第二次實(shí)驗(yàn)
坩堝的質(zhì)量（g）	29.563	30.064
坩堝＋試樣的質(zhì)量（g）	31.676	32.051
恒重后，坩堝＋硫酸銅的質(zhì)量（g）	30.911	31.324
x的值	5.05	5.13

 
根據(jù)上表中的數(shù)據(jù)處理結(jié)果，計(jì)算本次實(shí)驗(yàn)的相對(duì)誤差為______%（已知x的理論值為5）。
【分析與討論】
（1）做一次實(shí)驗(yàn)，至少需要加熱________次（填數(shù)字，下同）；至少需要稱量_________次。
（2）恒重操作的目的是__________________。
（3）重復(fù)兩次實(shí)驗(yàn)求x平均值的目的是_____________________________。
（4）實(shí)驗(yàn)值比理論值偏大的原因可能是________（填編號(hào)）。
a．加熱過程中有晶體濺出         b．被測(cè)樣品中含有加熱不揮發(fā)的雜質(zhì)
c．實(shí)驗(yàn)前，晶體表面潮濕         d．晶體灼燒后直接放在空氣中冷卻

Answer 1

電子天平。干燥器。1.8%。2；4。確保晶體失去了全部結(jié)晶水，減小實(shí)驗(yàn)誤差。減小偶然誤差。a、c（2分）。

解析試題分析：【實(shí)驗(yàn)步驟】（3）在加熱后冷卻時(shí)，為了防止硫酸銅吸水，應(yīng)將硫酸銅放在干燥器中進(jìn)行冷卻，從而得到純凈而干燥的無水硫酸銅。
【數(shù)據(jù)記錄與處理】相對(duì)誤差是理論質(zhì)量分?jǐn)?shù)減去實(shí)際質(zhì)量分?jǐn)?shù)除以理論質(zhì)量分?jǐn)?shù)。
【分析與討論】
（1）硫酸銅結(jié)晶水含量測(cè)定實(shí)驗(yàn)是一個(gè)基本的定量實(shí)驗(yàn)，實(shí)驗(yàn)的關(guān)鍵是加熱過程中使晶體中的結(jié)晶水全部失去。為了保證失去全部結(jié)晶水，實(shí)驗(yàn)中要加熱、稱量、再加熱、再稱量，直到最后兩次稱量值不超過0.1g（0.1g是托盤天平的感量）。注意此實(shí)驗(yàn)最少要稱量4次：即稱晶體、稱坩堝和晶體、稱坩堝和無水硫酸銅、再加熱再稱量至恒重（至少一次）。簡(jiǎn)稱：“一磨”、“四稱”、“兩熱”、“一算”。
（2）恒重操作的目的是確保晶體失去了全部結(jié)晶水，減小實(shí)驗(yàn)誤差。
（3）重復(fù)兩次實(shí)驗(yàn)求x平均值的目的是減小偶然誤差
（4）a．加熱過程中有少量晶體濺出，導(dǎo)致水的質(zhì)量測(cè)定結(jié)果偏大
b．被測(cè)樣品中含有加熱不揮發(fā)的雜質(zhì)，會(huì)導(dǎo)致測(cè)定的硫酸銅的質(zhì)量偏大，測(cè)定的水的質(zhì)量偏小
c．實(shí)驗(yàn)前，晶體表面潮濕，導(dǎo)致水的質(zhì)量測(cè)定結(jié)果偏大
d．晶體灼燒后直接放在空氣中冷卻，固體部分吸水，差距值變小，結(jié)果偏小，
考點(diǎn)：考查定量實(shí)驗(yàn)題。