A. | 1 | B. | -1 | C. | 1或-1 | D. | 不存在 |
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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:選擇題
A. | 在統(tǒng)計學(xué)中,獨(dú)立性檢驗是檢驗兩個分類變量是否有關(guān)系的一種統(tǒng)計方法 | |
B. | 在殘差圖中,殘差分布的帶狀區(qū)域的寬度越狹窄,其模擬的效果越好 | |
C. | 線性回歸方程對應(yīng)的直線$\widehat{y}$=$\widehat$x+$\widehat{a}$至少經(jīng)過其樣本數(shù)據(jù)點(diǎn)中的一個點(diǎn) | |
D. | 在回歸分析中,相關(guān)指數(shù)R2越大,模擬的效果越好 |
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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:選擇題
A. | 2i∈P | B. | $\frac{2}{i}$∈P | C. | ($\sqrt{2}$i)2∈P | D. | $\frac{2}{{i}^{3}}$∈P |
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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:選擇題
A. | tan$\frac{4π}{7}$>tan$\frac{3π}{7}$ | B. | tan$\frac{2π}{5}$<tan$\frac{3π}{5}$ | ||
C. | tan(-$\frac{13π}{7}$)>tan(-$\frac{15π}{8}$) | D. | tan(-$\frac{13π}{4}$)<tan(-$\frac{12π}{5}$) |
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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:解答題
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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:解答題
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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:填空題
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