精英家教網(wǎng)利用薄膜干涉可檢查工件表面的平整度.如圖(a)所示,現(xiàn)使透明標準板M和待檢工件N間形成一楔形空氣薄層,并用單色光照射,可觀察到如圖(b)所示的干涉條紋,條紋的彎曲處P和Q對應于A和B處,下列判斷中正確的是(  )
A、N的上表面A處向上凸起B、N的上表面B處向上凸起C、條紋的cd點對應處的薄膜厚度相同D、條紋的d、e點對應處的薄膜厚度相同
分析:薄膜干涉形成的條紋是膜的上下表面的發(fā)射光干涉產(chǎn)生的.當兩反射光的路程差(即膜厚度的2倍)是半波長的偶數(shù)倍,出現(xiàn)明條紋,是半波長的奇數(shù)倍,出現(xiàn)暗條紋,可知薄膜干涉是等厚干涉,即明條紋處空氣膜的厚度相同.
解答:解:薄膜干涉是等厚干涉,即明條紋處空氣膜的厚度相同.條紋的cd點在直條紋處,故cd點對應處的薄膜厚度相同,
從彎曲的條紋可知,A處檢查平面左邊處的空氣膜厚度與后面的空氣膜厚度相同,知A處凹陷,
B處檢查平面右邊處的空氣膜厚度與后面的空氣膜厚度相同,知B處凸起,
故選:BC.
點評:解決本題的關(guān)鍵知道薄膜干涉形成的條紋是膜的上下表面的發(fā)射光干涉產(chǎn)生的.以及知道薄膜干涉是一種等厚干涉.
練習冊系列答案
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利用薄膜干涉可檢查工件表面的平整度.如圖(a)所示,現(xiàn)使透明標準板M和待檢工件N間形成一楔形空氣薄層,并用單色光照射,可觀察到如圖(b)所示的干涉條紋,條紋的彎曲處PQ對應于AB處,下列判斷中正確的是

A.N的上表面A處向上凸起

B.N的上表面B處向上凸起

C.

條紋的cd點對應處的薄膜厚度相同

D.

條紋的d、e點對應處的薄膜厚度相同

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A.N的上表面A處向上凸起
B.N的上表面B處向上凸起
C.條紋的cd點對應處的薄膜厚度相同
D.條紋的d、e點對應處的薄膜厚度相同

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A.N的上表面A處向上凸起

B.N的上表面B處向上凸起

C.條紋的cd點對應處的薄膜厚度相同

D.條紋的d、e點對應處的薄膜厚度相同

 

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