Question

在“雙縫干涉”實(shí)驗(yàn)中，在光屏處放上照相底片，減弱光的強(qiáng)度，使光子只能一個(gè)一個(gè)地通過狹縫．實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明：如果曝光時(shí)間不太長(zhǎng)，底片上只能出現(xiàn)一些不規(guī)則的點(diǎn)跡；如果曝光時(shí)間足夠長(zhǎng)，底片上就會(huì)出現(xiàn)規(guī)則的干涉條紋．對(duì)該實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象的解釋正確的是（　　）

A、曝光時(shí)間不長(zhǎng)時(shí)，到達(dá)光屏光的光能太少，條紋看不清楚，故出現(xiàn)不規(guī)則的點(diǎn)跡

B、單個(gè)光子的行為表現(xiàn)出粒子性，沒有確定的軌道，故出現(xiàn)不規(guī)則的點(diǎn)跡

C、大量光子的行為表現(xiàn)出粒子性，所以會(huì)出現(xiàn)規(guī)則的干涉條紋

D、干涉條紋中亮條紋處表示有光子到達(dá)，暗條紋處表示沒有光子到達(dá)

Answer 1

分析：根據(jù)愛因斯坦的“光子說”可知，單個(gè)光子表現(xiàn)為粒子性，而大量光子表現(xiàn)為波動(dòng)性，并且單個(gè)光子通過雙縫后的落點(diǎn)無法預(yù)測(cè)，而光子到達(dá)的多的區(qū)域表現(xiàn)為亮條紋，而光子到達(dá)的少的區(qū)域表現(xiàn)為暗條紋．

解答：解：A、曝光時(shí)間不長(zhǎng)時(shí)，光子較少，少量的光子表現(xiàn)為粒子性，并且單個(gè)光子通過雙縫后的落點(diǎn)無法預(yù)測(cè)，會(huì)出現(xiàn)不規(guī)則的點(diǎn)跡．故A錯(cuò)誤．
B、單個(gè)光子的行為表現(xiàn)出粒子性，沒有確定的軌道，故出現(xiàn)不規(guī)則的點(diǎn)跡．故B正確．
C、大量光子的行為表現(xiàn)出波動(dòng)性，所以會(huì)出現(xiàn)規(guī)則的干涉條紋．故C錯(cuò)誤．
D、光子到達(dá)的多的區(qū)域表現(xiàn)為亮條紋，而光子到達(dá)的少的區(qū)域表現(xiàn)為暗條紋．故D錯(cuò)誤．
故選B．

點(diǎn)評(píng)：本題主要考查了光的波粒二象性及其表現(xiàn)形式，其實(shí)這類題目往往考查的內(nèi)容很基礎(chǔ)，故只要注意基礎(chǔ)知識(shí)的積累，就能順利解決此類題目．