科目: 來源:不詳 題型:單選題
A.用顯微鏡觀察α粒子打擊實驗,在B處觀察到的最多 |
B.用顯微鏡觀察α粒子打擊實驗,在A處觀察到的最多 |
C.用顯微鏡觀察α粒子打擊實驗,在C、D處觀察不到粒子 |
D.α粒子只所以發(fā)生散射,是α粒子與電子碰撞的結果 |
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科目: 來源:不詳 題型:多選題
A.放在A位置時,相同時間內(nèi)觀察到屏上的閃光次數(shù)最多 |
B.放在B位置時,相同時間內(nèi)觀察到屏上的閃光次數(shù)最多 |
C.放在C位置時,屏上仍能觀察一些閃光,但次數(shù)極少 |
D.放在D位置時,屏上觀察不到閃光 |
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科目: 來源:上海 題型:單選題
A.原子的核式結構模型 |
B.原子核內(nèi)有中子存在 |
C.電子是原子的組成部分 |
D.原子核是由質(zhì)子和中子組成的 |
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科目: 來源:不詳 題型:單選題
A.原子的中心有個核,叫原子核 |
B.原子的正電荷均勻分布在整個原子中 |
C.原子的全部正電荷和幾乎全部質(zhì)量都集中在原子核里 |
D.帶負電的電子在核外繞著核旋轉(zhuǎn) |
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科目: 來源:不詳 題型:多選題
A. | B. | C. | D. |
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科目: 來源:不詳 題型:單選題
A.全部穿過或發(fā)生很小的偏轉(zhuǎn) |
B.全部發(fā)生很大的偏轉(zhuǎn) |
C.絕大多數(shù)穿過,只有少數(shù)發(fā)生很大偏轉(zhuǎn),甚至極少數(shù)被彈回 |
D.絕大多數(shù)發(fā)生偏轉(zhuǎn),甚至被彈回 |
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科目: 來源:不詳 題型:單選題
A.核的質(zhì)量大于核外電子的質(zhì)量 |
B.核的質(zhì)量大于核內(nèi)質(zhì)子的質(zhì)量 |
C.核電荷數(shù)與核內(nèi)質(zhì)子數(shù)相等 |
D.核電荷數(shù)在數(shù)值上只有質(zhì)量數(shù)的一半或還少些 |
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科目: 來源:不詳 題型:單選題
A.全部穿過金原子,且發(fā)生很小的偏轉(zhuǎn) |
B.絕大多數(shù)穿過金原子,只有少數(shù)發(fā)生大角度偏轉(zhuǎn),極少數(shù)甚至被彈回 |
C.絕大多數(shù)發(fā)生很大的偏轉(zhuǎn),甚至被彈回,只有少數(shù)穿過金原子 |
D.全部發(fā)生很大的偏轉(zhuǎn) |
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