（08年黃橋中學(xué)三模）掃描隧道顯微鏡（STM）是根據(jù)量子力學(xué)原理中的隧道效應(yīng)而設(shè)計(jì)成的，當(dāng)原子尺度的探針針尖在不到一個(gè)納米的高度上掃描樣品時(shí)，外加一電壓（2mV~2V），針尖與樣品之間產(chǎn)生隧道效應(yīng)而有電子逸出，形成隧道電流。電流強(qiáng)度隨針尖與樣品間的距離的減少而指數(shù)上升（如圖1所示），當(dāng)探針沿物質(zhì)表面按給定高度掃描時(shí)，因樣品表面原子凹凸不平，使探針與物質(zhì)表面間的距離不斷發(fā)生改變，從而引起隧道電流不斷發(fā)生改變。將電流的這種改變圖像化即可顯示出原子水平的凹凸形態(tài)。掃描隧道顯微鏡的分辨率很高，橫向?yàn)?.1~0.2nm，縱向可達(dá)0.001nm。如果探針針尖在圖2所示的樣品表面，從圖示位置開始，以恒定高度做一維勻速掃描，如果針尖與樣品間地距離在r₁和r₂的范圍內(nèi)變化，則產(chǎn)生的隧道電流可能是圖3中的哪種？