（08年黃橋中學三模）掃描隧道顯微鏡（STM）是根據(jù)量子力學原理中的隧道效應而設計成的，當原子尺度的探針針尖在不到一個納米的高度上掃描樣品時，外加一電壓（2mV~2V），針尖與樣品之間產(chǎn)生隧道效應而有電子逸出，形成隧道電流。電流強度隨針尖與樣品間的距離的減少而指數(shù)上升（如圖1所示），當探針沿物質(zhì)表面按給定高度掃描時，因樣品表面原子凹凸不平，使探針與物質(zhì)表面間的距離不斷發(fā)生改變，從而引起隧道電流不斷發(fā)生改變。將電流的這種改變圖像化即可顯示出原子水平的凹凸形態(tài)。掃描隧道顯微鏡的分辨率很高，橫向為0.1~0.2nm，縱向可達0.001nm。如果探針針尖在圖2所示的樣品表面，從圖示位置開始，以恒定高度做一維勻速掃描，如果針尖與樣品間地距離在r₁和r₂的范圍內(nèi)變化，則產(chǎn)生的隧道電流可能是圖3中的哪種？