某工廠在試驗階段大量生產(chǎn)一種零件,這種零件有A、B兩項技術(shù)指標需要檢測,設(shè)各項技術(shù)指標達標與否互不影響.若A項技術(shù)指標達標的概率為
3
4
,B項技術(shù)指標達標的概率為
8
9
.按質(zhì)量檢驗規(guī)定:兩項技術(shù)指標都達標的零件為合格品.
(1)一個零件經(jīng)過檢測至少一項技術(shù)指標達標的概率;
(2)任意依次抽取該種零件4個,設(shè)ξ表示其中合格品的個數(shù),求ξ的分布列及Eξ.
考點:離散型隨機變量及其分布列,離散型隨機變量的期望與方差
專題:計算題,概率與統(tǒng)計
分析:(1)分A項指標達標與A項指標不達標而B項技術(shù)指標達標求概率再求和即可;
(2)由題意求ξ的分布列及Eξ.
解答: 解:(1)一個零件經(jīng)過檢測至少一項技術(shù)指標達標的概率
P=
3
4
+(1-
3
4
)×
8
9
=
35
36
,
(2)一個產(chǎn)品合格的概率為
3
4
×
8
9
=
2
3
,
則P(ξ=0)=
C
0
4
(
2
3
)0
×(
1
3
)4
=
1
81
,
同理可求得,P(ξ=1)=
8
81
,P(ξ=2)=
24
81
,P(ξ=3)=
32
81
,P(ξ=4)=
16
81
;
故ξ的分布列是
ξ01234
P
1
81
8
81
24
81
32
81
16
81
Eξ=4×
2
3
=
8
3
點評:本題考查了離散型隨機變量分布和數(shù)學(xué)期望等概念,考查運用概率知識解決實際問題的能力.
練習(xí)冊系列答案
相關(guān)習(xí)題

科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:

下列給出的同組函數(shù)中,表示同一函數(shù)的是(  )
(1)f(x)=
x2
和g(x)=
3x3
;
(2)f(x)=
|x|
x
和g(x)=
1,x>0
-1,x<0
;
(3)f(x)=1和g(x)=x0.$\end{array}$.
A、(1)、(2)
B、(2)
C、(1)、(3)
D、(3)

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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:

設(shè)函數(shù)f(x)=(a+1)x-
1
x-2

(1)解關(guān)于a的不等式f(3)≥2-
a
a+1
;
(2)當a≥-
1
2
時,解關(guān)于x的不等式f(x)≥1.

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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:

某幾何體的三視圖如圖所示,則它的側(cè)面積是
 

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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:

已知數(shù)列{an}中,a1=1,an+1=
3
an-1
an+
3
(n∈N+)
,則a2015=
 

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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:

已知函數(shù)f(x)=
3
2
x2+2ax-a2lnx-1
(1)a≠0時,討論函數(shù)f(x)的單調(diào)性;
(2)若不等式2xlnx≤xf′(x)+a2+1恒成立,其中f′(x) f(x)是f(x)的導(dǎo)數(shù),求實數(shù)a的取值范圍.

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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:

設(shè)A,B是橢圓
x2
a2
+
y2
b2
=1(a>b>0)的左、右頂點,長軸長為4,短軸長為2,點P是橢圓上異于A,B的任意一點,直線l:x=3與PA,PB分別交于M,N兩點,做以MN為直徑的圓,設(shè)此圓圓心為Q.
(1)求橢圓的標準方程;
(2)圓Q恒過x軸上兩個定點,求這兩個定點的坐標;
(3)試判斷PQ直線與橢圓的位置關(guān)系,并說明理由.

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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:

求圓C:x2+y2-2x-1=0關(guān)于直線x-y+1=0的對稱圓C′的方程.

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科目:高中數(shù)學(xué) 來源: 題型:

已知圓柱的體積是20π立方厘米,側(cè)面積是40π立方厘米,那么它的高是
 

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