在雙縫干涉試驗(yàn)中發(fā)現(xiàn)條紋太密,不便于測(cè)量,可以采用的改善辦法( )
A.改用波長(zhǎng)較短的光(比如紫光)做入射光 B.減小雙縫到屏的距離
C.增大雙縫間距 D.減小雙縫間距
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科目:高中物理 來(lái)源: 題型:單選題
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科目:高中物理 來(lái)源: 題型:
在雙縫干涉試驗(yàn)中發(fā)現(xiàn)條紋太密,不便于測(cè)量,可以采用的改善辦法( )
A.改用波長(zhǎng)較短的光(比如紫光)做入射光 B.減小雙縫到屏的距離
C.增大雙縫間距 D.減小雙縫間距
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科目:高中物理 來(lái)源:2010-2011學(xué)年河南省長(zhǎng)葛市天陽(yáng)中學(xué)高二下學(xué)期期中考試物理試題 題型:單選題
在雙縫干涉試驗(yàn)中發(fā)現(xiàn)條紋太密,不便于測(cè)量,可以采用的改善辦法( )
A.改用波長(zhǎng)較短的光(比如紫光)做入射光 | B.減小雙縫到屏的距離 |
C.增大雙縫間距 | D.減小雙縫間距 |
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