在雙縫干涉試驗(yàn)中發(fā)現(xiàn)條紋太密，不便于測(cè)量，可以采用的改善辦法


  1. A.
    改用波長(zhǎng)較短的光（比如紫光）做入射光
  2. B.
    減小雙縫到屏的距離
  3. C.
    增大雙縫間距
  4. D.
    減小雙縫間距
練習(xí)冊(cè)系列答案
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科目：高中物理 來源：2012屆河南省長(zhǎng)葛市高二下學(xué)期期中考試物理試題 題型：選擇題

在雙縫干涉試驗(yàn)中發(fā)現(xiàn)條紋太密，不便于測(cè)量，可以采用的改善辦法（     ）

A．改用波長(zhǎng)較短的光（比如紫光）做入射光          B．減小雙縫到屏的距離

C．增大雙縫間距                                  D．減小雙縫間距

 

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科目：高中物理 來源： 題型：

在雙縫干涉試驗(yàn)中發(fā)現(xiàn)條紋太密，不便于測(cè)量，可以采用的改善辦法（     ）

A．改用波長(zhǎng)較短的光（比如紫光）做入射光          B．減小雙縫到屏的距離

C．增大雙縫間距                                 D．減小雙縫間距

 

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在雙縫干涉試驗(yàn)中發(fā)現(xiàn)條紋太密，不便于測(cè)量，可以采用的改善辦法（    ）

A．改用波長(zhǎng)較短的光（比如紫光）做入射光B．減小雙縫到屏的距離
C．增大雙縫間距D．減小雙縫間距

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