分析 (1)由題意得樣本中含不合格芯片數(shù)X的可能取值為0,1,2,分別求出P(X=0),P(X=1),P(X=2),由此能求出樣本中含不合格芯片數(shù)X的分布列.
(2)由樣本中含不合格芯片數(shù)的分布列,利用對立事件概率計算公式能求出樣本中至少含有一個不合格芯片的概率.
解答 解:(1)由題意得樣本中含不合格芯片數(shù)X的可能取值為0,1,2,
P(X=0)=$\frac{{C}_{98}^{5}}{{C}_{100}^{5}}$=$\frac{1786}{1980}$=$\frac{893}{990}$,
P(X=1)=$\frac{{C}_{2}^{1}{C}_{98}^{4}}{{C}_{100}^{5}}$=$\frac{19}{198}$,
P(X=2)=$\frac{{C}_{2}^{2}{C}_{98}^{3}}{{C}_{100}^{5}}$=$\frac{1}{495}$,
∴樣本中含不合格芯片數(shù)X的分布列為:
X | 0 | 1 | 2 | |
P | $\frac{893}{990}$ | $\frac{19}{198}$ | $\frac{1}{495}$ |
點評 本題考查概率的求法,考查離散型隨機變量的分布列的求法,是基礎題,解題時要認真審題,注意對立事件概率計算公式的合理運用.
科目:高中數(shù)學 來源: 題型:選擇題
A. | (-2,-1)∪(-1,0) | B. | (-$\frac{3}{2}$,-1)∪(-1,-$\frac{1}{2}$) | C. | (-$\frac{5}{4}$,-1)∪(-1,-$\frac{3}{4}$) | D. | (-$\frac{7}{4}$,-1)∪(-1,-$\frac{1}{4}$) |
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A. | 17 | B. | 18 | C. | 19 | D. | 20 |
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